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推薦產(chǎn)品
  • Alpha-Step臺(tái)階儀
    Alpha-Step臺(tái)階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。Alpha-Step臺(tái)階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式輪廓儀優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸,保護(hù)了測(cè)量裝置,同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測(cè)量模式同時(shí)采...

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  • 經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
    經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器可測(cè)樣。

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對(duì)玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測(cè)。Lumina AT1既能夠檢測(cè)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料,又能對(duì)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測(cè),其...

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線用氮化硅窗口類似,透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小,適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料,熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品,如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
    全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

    P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀,將P-17臺(tái)式系統(tǒng)的測(cè)量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂相結(jié)合。 這樣的組合為機(jī)械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本,適...

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  • 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
    晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

    P-7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能,并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了好的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接...

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  • 高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)
    高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)

    高分辨率納米壓印模板(Mold for nanoimprint lithography)采用*制造工藝,可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標(biāo)準(zhǔn)模板分為三類:Quartz Molds, Silicon M...

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  • 氮化硅薄膜窗格
    氮化硅薄膜窗格

    SHNTI的X-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟X-射線(如真空紫外線)的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線透射顯微成像時(shí)承載樣品。 X-射線越軟(能量越低),穿透能力越差,所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀...

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  • Imprint Nano納米壓印
    Imprint Nano納米壓印

    納米壓印的技術(shù)與工藝特點(diǎn),*性地設(shè)計(jì)和制備工作于低真空環(huán)境下,結(jié)合正負(fù)壓可控調(diào)節(jié)并利用壓縮空氣作為壓印驅(qū)動(dòng)力的,通過(guò)壓力傳導(dǎo)裝置、緩沖與勻壓、壓力調(diào)節(jié)控制裝置等手段實(shí)現(xiàn)平穩(wěn)可靠可控的壓印過(guò)程,借助于多...

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  • 俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
    俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力

    俄羅斯產(chǎn)高性價(jià)比掃描探針顯微鏡原子力驅(qū)近系統(tǒng)的機(jī)械設(shè)計(jì)可使得經(jīng)過(guò)幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測(cè)區(qū)域。掃描位移大約為500nm,這個(gè)特點(diǎn)可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。

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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類
  • 掃描探針顯微鏡

  • 日本原裝隔振平臺(tái)

  • 能譜儀

  • 輪廓儀

    接觸式輪廓儀 光學(xué)輪廓儀
  • 光纖光譜儀

  • 俄羅斯NT-MDT針尖耗材

  • 納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)

  • 脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)

  • 超高真空脈沖激光鍍膜系統(tǒng)

  • 納米傳感探針

  • 粒度儀

  • 納米壓印

    Imprint Nano納米壓印
  • 探針臺(tái)

  • 日本臺(tái)階儀

  • 臺(tái)階儀

  • 納米壓痕儀

  • 電導(dǎo)率儀

  • 硬度計(jì)

  • 拉伸臺(tái)

  • 隔振臺(tái)

  • 清洗儀

  • 激光制樣

  • 掃描熱學(xué)顯微鏡

  • 等離子共振顯微鏡

  • 光學(xué)表面缺陷分析儀

  • 電子束曝光系統(tǒng)

  • 聚合物筆印刷

  • 原子力顯微鏡

  • 外延薄膜設(shè)備

  • 光刻機(jī)

  • 低溫設(shè)備

  • 鍍膜機(jī)

  • 長(zhǎng)晶設(shè)備

  • 顯微鏡

  • 晶圓檢測(cè)

  • 組裝與封裝設(shè)備

    鍵合機(jī)
tel-phone

021-64283335

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  • 原位拉伸臺(tái)
    原位拉伸臺(tái)

    為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD,樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)...

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  • Alpha-Step臺(tái)階儀
    Alpha-Step臺(tái)階儀

    Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測(cè)量。Alpha-Step臺(tái)階儀光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 ...

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  • 三維光學(xué)輪廓儀
    三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式輪廓儀優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸,保護(hù)了測(cè)量裝置,同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)量技術(shù)。 ZDot 測(cè)量模式同時(shí)采...

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  • 經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
    經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀,其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器可測(cè)樣。

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  • 高精度臺(tái)式納米壓痕儀
    高精度臺(tái)式納米壓痕儀

    iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀是一種緊湊,用戶友好的納米機(jī)械測(cè)量系統(tǒng),設(shè)計(jì)用于硬涂層,薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確,可重復(fù)的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試,包括壓痕,硬度,劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試。iNano具有很...

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  • 光學(xué)表面缺陷分析儀
    光學(xué)表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學(xué)表面缺陷分析儀可對(duì)玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行表面檢測(cè)。Lumina AT1既能夠檢測(cè)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料,又能對(duì)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進(jìn)行檢測(cè),其...

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  • 方阻測(cè)試儀
    方阻測(cè)試儀

    Filmetrics R50 是KLA電阻測(cè)試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測(cè)試儀是KLA超45年電阻測(cè)量技術(shù)地位之作。電阻測(cè)量和監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要,從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...

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  • 高精度原子力顯微鏡
    高精度原子力顯微鏡

    高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來(lái)納米級(jí)分辨率的數(shù)據(jù),值得您信賴、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的智能模式下,系統(tǒng)自動(dòng)執(zhí)行所有必要的成像操作,同時(shí)智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...

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  • 原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
    原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

    Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確,靈活,使用方便的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試儀器。 G200 測(cè)量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個(gè)數(shù)量級(jí)的形變測(cè)量。 可測(cè)量聚合...

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  • 表面等離子共振顯微鏡
    表面等離子共振顯微鏡

    SPRm200 表面等離子共振顯微鏡工作原理基于表面等離子共振(SPR)技術(shù)。是世界上先將表面等離子體共振技術(shù)和光學(xué)顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測(cè)儀。可以同時(shí)得到細(xì)胞原位明場(chǎng)成像、SPR成像、及S...

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  • TEM氮化硅薄膜窗口
    TEM氮化硅薄膜窗口

    與X射線用氮化硅窗口類似,透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小,適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時(shí)SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

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  • 納米壓印膠
    納米壓印膠

    公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料,熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學(xué)藥品,如模板防粘劑、基片增粘劑...

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  • 緊湊型臺(tái)式光刻系統(tǒng)
    緊湊型臺(tái)式光刻系統(tǒng)

    緊湊型臺(tái)式光刻系統(tǒng)重新定義無(wú)掩模光刻技術(shù)LITHO MASKLESS 是一款緊湊型臺(tái)式光刻系統(tǒng)利用基于 UV LED 的 DLP 引擎實(shí)現(xiàn)無(wú)掩模圖案化。設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔,精準(zhǔn)它將微加工技術(shù)從潔凈室和任何研究或...

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  • 半自動(dòng)晶圓鍵合機(jī)
    半自動(dòng)晶圓鍵合機(jī)

    SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動(dòng)晶圓鍵合設(shè)備,具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)保證鍵合的壓盤相對(duì)水平,優(yōu)良的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計(jì),方便簡(jiǎn)潔的菜單編輯和設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控以及安全保...

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  • 自由曲面三維面型檢測(cè)儀
    自由曲面三維面型檢測(cè)儀

    自由曲面三維面型檢測(cè)儀自由曲面光學(xué)元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機(jī)鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域,自由曲面三維面型檢測(cè)儀,能夠非接觸測(cè)量光學(xué)鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù),開展三維輪廓分析和三...

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  • 晶圓翹曲應(yīng)力測(cè)量?jī)x
    晶圓翹曲應(yīng)力測(cè)量?jī)x

    晶圓翹曲應(yīng)力測(cè)量?jī)x具備三維翹曲(平整度)及薄膜應(yīng)力的檢測(cè)功能,適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)

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  • 三維測(cè)量輪廓儀
    三維測(cè)量輪廓儀

    從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制,該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀測(cè)量分析和粗糙度質(zhì)量評(píng)價(jià)。白光干涉原理。

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  • 內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀
    內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀

    Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測(cè)儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測(cè)量及缺陷篩查等檢測(cè)功能

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  • 高光譜顯微系統(tǒng)
    高光譜顯微系統(tǒng)

    高級(jí)研究型高光譜顯微系統(tǒng)結(jié)合了高光譜技術(shù)和顯微鏡技術(shù),能夠在不同波長(zhǎng)范圍內(nèi)獲取高分辨率的光譜信息與生物樣品形態(tài)圖,實(shí)現(xiàn)在一張圖中同時(shí)獲取光譜和圖像信息。該系統(tǒng)還運(yùn)用AI技術(shù)實(shí)現(xiàn)虛擬染色,大幅度提高病理...

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  • 陣列式壓力傳感系統(tǒng)
    陣列式壓力傳感系統(tǒng)

    陣列式壓力傳感系統(tǒng)通過(guò)由前端柔性陣列式微機(jī)電壓力感測(cè)器及后端軟件界面組成,前端傳感器依所承受壓力呈現(xiàn)線性反應(yīng)變化,壓力越大則電導(dǎo)越高,再由后端軟件將接觸面壓力分布實(shí)時(shí)呈現(xiàn)并記錄,協(xié)助設(shè)備進(jìn)行有效調(diào)整校...

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上海納騰儀器有限公司
上海納騰儀器有限公司是從事掃描探針顯微鏡(SPM)銷售的專業(yè)公司。公司作為俄羅斯NT-MDT在中國(guó)大陸及港、澳地區(qū)的經(jīng)銷商(RESELLER),在掃描探針顯微鏡(SPM)領(lǐng)域有多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),擁有一支成熟的銷售、技術(shù)團(tuán)隊(duì),迄今已累計(jì)銷售超過(guò)100臺(tái)(套)儀器。
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技術(shù)文章
  • 等離子共振顯微鏡:解鎖活細(xì)胞動(dòng)態(tài)可視化新方式
    在生命科學(xué)的探索之旅中,對(duì)活細(xì)胞內(nèi)部復(fù)雜動(dòng)態(tài)過(guò)程的直觀觀察一直是科學(xué)家們追求的目標(biāo)。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡雖能提供一定的視角,但在分辨率、對(duì)比度及實(shí)時(shí)性方面仍存在局限。近年來(lái),隨著納米技術(shù)和光子學(xué)的發(fā)展,一種名為“等離子共振顯微鏡”的創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,它以清晰度和靈敏度,為活細(xì)胞的動(dòng)態(tài)可視化開辟了全新的路徑。一、技術(shù)原理與優(yōu)勢(shì)等離子共振顯微鏡的核心在于利用金屬納米結(jié)構(gòu)表面的局域表面等離子體共振效應(yīng)。當(dāng)光波照射到這些精心設(shè)計(jì)的金屬納米結(jié)構(gòu)上時(shí),會(huì)激發(fā)電子集體振蕩,形成強(qiáng)烈的電磁場(chǎng)增強(qiáng)效...
    2025-11-24
  • 圓探針式臺(tái)階儀分辨率提升方法及實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
    在微電子制造、精密光學(xué)和納米材料研究領(lǐng)域,圓探針式臺(tái)階儀作為關(guān)鍵形貌測(cè)量設(shè)備,其分辨率直接決定了薄膜厚度、臺(tái)階高度等參數(shù)的檢測(cè)精度。本文針對(duì)影響儀器性能的核心因素進(jìn)行系統(tǒng)分析,并提出優(yōu)化方案與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證路徑。一、探針參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)探針曲率半徑是制約橫向分辨率的首要因素。理論計(jì)算表明,當(dāng)探針半徑減小至微米級(jí)時(shí),邊緣效應(yīng)引起的測(cè)量誤差可降低。配合彈性模量匹配的金剛石涂層,既提高耐磨性又將接觸變形量控制在納米級(jí)別。動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)顯示,改良后的探針對(duì)階梯結(jié)構(gòu)的響應(yīng)靈敏度提升。二、信號(hào)處理算法升...
    2025-10-23
  • 大樣品臺(tái)原子力顯微鏡的長(zhǎng)期穩(wěn)定性評(píng)估
    在納米級(jí)表征領(lǐng)域,大樣品臺(tái)原子力顯微鏡因能容納不規(guī)則超大試樣而備受青睞。然而,這類設(shè)備在實(shí)際工作環(huán)境中面臨多重挑戰(zhàn)——環(huán)境溫濕度波動(dòng)、機(jī)械振動(dòng)傳導(dǎo)以及自身熱漂移等因素均可能影響成像質(zhì)量和測(cè)量精度。本文通過(guò)系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與數(shù)據(jù)分析,深入探討這些因素對(duì)設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定性的具體影響機(jī)制及補(bǔ)償方案。一、溫度梯度導(dǎo)致的熱形變補(bǔ)償難題實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示,當(dāng)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度以特定℃/h速率變化時(shí),大樣品臺(tái)原子力顯微鏡由于材料熱膨脹系數(shù)差異會(huì)產(chǎn)生微小形變。這種緩慢而持續(xù)的偏移會(huì)逐漸累積成明顯的圖像失真,特...
    2025-9-25
  • 高精度輪廓儀常見(jiàn)故障排查
    高精度輪廓儀作為精密測(cè)量設(shè)備,在工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域扮演著重要角色。然而在實(shí)際使用過(guò)程中,用戶常會(huì)遇到測(cè)量結(jié)果偏差、數(shù)據(jù)異常波動(dòng)等問(wèn)題,這些故障不僅影響工作效率,還可能導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量誤判。本文將系統(tǒng)梳理常見(jiàn)故障現(xiàn)象及其對(duì)應(yīng)解決方案,幫助使用者快速定位問(wèn)題并恢復(fù)設(shè)備正常性能。測(cè)量不準(zhǔn)是用戶反饋較集中的問(wèn)題之一。當(dāng)發(fā)現(xiàn)同一工件多次測(cè)量數(shù)值存在明顯差異時(shí),首先要檢查校準(zhǔn)狀態(tài)。多數(shù)設(shè)備內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)塊自動(dòng)校準(zhǔn)功能,但長(zhǎng)期使用后機(jī)械部件磨損或環(huán)境溫濕度變化都可能使基準(zhǔn)偏移。建議每周進(jìn)行一次靜態(tài)標(biāo)...
    2025-8-26
  • 納米壓痕儀:解鎖微觀世界的精密密碼
    當(dāng)我們談?wù)摰讲牧系挠捕取椥阅A炕蚴乔?qiáng)度時(shí),往往需要一個(gè)能夠測(cè)量這些性質(zhì)的工具。而在這個(gè)追求精度的時(shí)代,納米壓痕儀應(yīng)運(yùn)而生,它如同一位細(xì)膩入微的設(shè)備,在微觀尺度上揭開了物質(zhì)力學(xué)性能的秘密面紗。不同于傳統(tǒng)的宏觀測(cè)試方法,如布氏硬度計(jì)或洛氏硬度測(cè)試,它們只能提供較為粗略的數(shù)據(jù)且受限于較大的樣本尺寸和表面粗糙度的影響。納米壓痕儀則采用了一種全新的方式:通過(guò)微小的探針施加可控的壓力到材料表面上,并記錄下隨之產(chǎn)生的位移變化。這個(gè)過(guò)程就像是用一根細(xì)針輕輕觸碰水面,觀察泛起漣漪的過(guò)程一...
    2025-7-28
  • 等離子共振顯微鏡,探微觀奧秘
    在科學(xué)探索的漫漫長(zhǎng)路中,人類始終在追尋著能夠突破現(xiàn)有局限、更深入地洞察微觀世界奧秘的工具。等離子共振顯微鏡的出現(xiàn),猶如為科學(xué)家們打開了一扇通往全新微觀領(lǐng)域的大門。當(dāng)我們提及微觀觀測(cè),傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是大家較為熟知的。然而,它們各自存在著一定的局限性。光學(xué)顯微鏡受限于光的波長(zhǎng),難以觀測(cè)到納米級(jí)別以下的微小結(jié)構(gòu);而電子顯微鏡雖然有更高的分辨率,但復(fù)雜的樣品制備過(guò)程以及電子束可能對(duì)樣品造成的損傷等問(wèn)題,也給研究帶來(lái)了諸多不便。等離子共振顯微鏡則另辟蹊徑,它利用的是一種特殊...
    2025-6-25
  • 臺(tái)式納米壓痕儀,微觀世界的探索者
    在微觀世界里,每一次觸碰都可能揭示材料科學(xué)的新奧秘。臺(tái)式納米壓痕儀,這一看似不起眼的設(shè)備,卻如同一位精細(xì)的工匠,以其方式探索著材料的微觀力學(xué)性能。它不僅僅是一臺(tái)儀器,更是連接宏觀與微觀、理論與實(shí)踐的橋梁,帶領(lǐng)著科學(xué)家們深入理解材料的本質(zhì)。一、初識(shí)納米壓痕技術(shù)納米壓痕技術(shù),簡(jiǎn)而言之,是一種通過(guò)較小的探針(通常為金剛石制成的壓頭)對(duì)材料表面進(jìn)行微小壓痕實(shí)驗(yàn)的方法。這項(xiàng)技術(shù)能夠在納米尺度上測(cè)量材料的硬度、彈性模量等力學(xué)參數(shù),而它正是實(shí)現(xiàn)這一技術(shù)的核心工具。不同于傳統(tǒng)的宏觀力學(xué)測(cè)試,...
    2025-6-20
  • 電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用與前沿發(fā)展
    電子顯微鏡作為一種利用電子束替代光束進(jìn)行觀察的高分辨率顯微鏡,已經(jīng)在科學(xué)研究與材料分析領(lǐng)域發(fā)揮了作用。而在這一領(lǐng)域,電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)更是以其功能和廣泛的應(yīng)用范圍,成為了材料科學(xué)、物理學(xué)和化學(xué)等多個(gè)學(xué)科研究中的關(guān)鍵工具。電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)通過(guò)將樣品置于一個(gè)可控的高溫高壓環(huán)境下,結(jié)合電子顯微鏡的高分辨率成像能力,使得研究者能夠?qū)崟r(shí)、動(dòng)態(tài)地觀測(cè)樣品在高溫下的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)變化。這種技術(shù)不僅拓寬了電子顯微鏡的應(yīng)用邊界,更為深入理解材料的本質(zhì)特性提供了強(qiáng)有力的支持。在材料科學(xué)研究...
    2025-2-24
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